本文標(biāo)題："土壤礦物微量分析測(cè)量用專(zhuān)業(yè)偏光顯微鏡制造廠商"

土壤礦物微量分析測(cè)量用專(zhuān)業(yè)偏光顯微鏡制造廠商

    激光光譜儀(laser spectrometer)連帶偏光顯微鏡不能用于掃描。但是，樣本的分析表
面雖僅稍大于微探針?lè)治龅谋砻妫欢芏容^大。

    微量化學(xué)分析可用于土壤薄片。這是借加入特殊試劑，靠用目力比色鑒定的方法。這種
技術(shù)的潛在作用還待探索。

    根據(jù)光學(xué)性質(zhì)和結(jié)晶學(xué)特征，運(yùn)用普通偏光顯微鏡可進(jìn)行礦物微量分析;但是，只有在
礦物的大小超過(guò)土壤薄片的厚度時(shí)才有可能。因?yàn)橥寥勒沉５V物過(guò)小，如用偏光顯微鏡是很
少能鑒定的。
    然而，有其它技術(shù)可用以鑒定土壤礦物。例如，應(yīng)用相差顯微鏡(或干涉相，interfere-
nce phase)觀察，透射電鏡(TEM)觀察小樣本的懸液等。這些方法可鑒定粘粒礦物的主要
類(lèi)型，但是認(rèn)識(shí)它們?cè)谏先乐械霓D(zhuǎn)變還有困難。

    用X一射線衍射法進(jìn)行微量分析還不可能很清楚。另一種方法是從旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極而放射出的
X一射線來(lái)對(duì)準(zhǔn)焦點(diǎn);并在反射鏡(mirror)中，用偏光顯微鏡觀察所測(cè)的分析點(diǎn)位。這種方
法仍在研究中。

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