本文標(biāo)題："電子封裝檢測(cè)用工具顯微鏡-便攜式光學(xué)儀器"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2014-8-3 17:56:20
電子封裝檢測(cè)用工具顯微鏡-便攜式光學(xué)儀器
近年來(lái)，由于納米填料有聚合成大塊的趨勢(shì)，很多人對(duì)納米顆粒的
擴(kuò)散問(wèn)題進(jìn)行了研究。用納米ACA/ACF對(duì)小間距電子器件進(jìn)行連接時(shí)，需要解決導(dǎo)電
顆粒的擴(kuò)散問(wèn)題。最常用的方法包括物理方法(如聲波講解法)和化學(xué)方法
(如表面化學(xué)劑)。
最近，為適應(yīng)下一代高性能電子封裝，有人提出了一種新的ACA/ACF原位自生納米
填料方法。這種新方法在Z方向的導(dǎo)電性和極細(xì)小間距( <100nm)下稼定性都比較好。
在燒結(jié)過(guò)程中，用納米顆粒的原位自生的方法，可以達(dá)到與在樹(shù)脂材料中增加納米
顆粒數(shù)量同樣的效果。利用納米顆粒的原位自生性，
在燒結(jié)過(guò)程中可以有效阻止顆粒團(tuán)聚，而且可以克服納米顆粒表面易氧化的缺點(diǎn)。
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