本文標(biāo)題："電子顯微鏡另一個(gè)重要特點(diǎn)上放大倍率變化范圍較寬"
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電子顯微鏡另一個(gè)重要特點(diǎn)上放大倍率變化范圍較寬
掃描電子顯微鏡另一個(gè)重要特點(diǎn)上放大倍率變化范圍較寬，因
而有可能宏觀斷口分析和顯微鏡斷口分析結(jié)合起來。點(diǎn)在研究服役
過程中的斷裂事故時(shí)特別有用。
盡管透射電子顯微鏡的放大位數(shù)高些，但掃描電子顯微鏡能用
來研究粗糙的斷口，這是透射電子顯微鏡做不到和，
掃描電子顯微鏡還適于觀察非常小的斷口（如線材的斷口），
而在確定主斷裂和次斷裂源以及匹配斷口的對(duì)應(yīng)區(qū)時(shí)，掃描電子顯
微鏡也能用來觀察大尺寸的斷口。
這里有必要對(duì)掃描電子顯微鏡試樣制備的一皯問題作簡要敘述
：試樣可能是在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)確定的條件下斷裂；也可能是在服役現(xiàn)場
斷裂的，這兩種情況下得到的斷口表面狀況是不一樣的。在前一種
情況里，
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