本文標(biāo)題："斷層兩側(cè)巖石標(biāo)本截面分析圖像光學(xué)金相顯微鏡"
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斷層兩側(cè)巖石標(biāo)本截面分析圖像光學(xué)金相顯微鏡
采集斷層兩側(cè)巖石標(biāo)本及斷層帶中斷層泥和斷層角礫的
標(biāo)本進(jìn)行鏡下研究和化學(xué)分析，以研究其蝕變及礦化現(xiàn)象。此項(xiàng)
研究工作是非常有價(jià)值的。對于切過礦體的成礦后斷層，有時(shí)在
其斷層泥或斷層角礫中含有礦石破壞后的碎屑，通過對這些斷層
產(chǎn)物的研究可以有助干找到礦體的失落翼。而對于成礦前或成礦
中斷層破碎產(chǎn)物的研究其意義更大，因?yàn)樵诔傻V前或成礦中的斷
層中，如果某部位賦存有礦體，則其斷層泥或斷層角礫中也往往
有少量有用礦物，其中造礦組分的含量也相應(yīng)的增高。隨著斷層
泥或斷層角礫距礦體的遠(yuǎn)近，其中的有用礦物和造礦組分的含量
也有所不同，愈靠近礦體的，有用礦物和造礦組分含量愈高。在
與成礦有關(guān)的斷層破碎帶上，造礦組分含量的有規(guī)律升高的現(xiàn)
象，實(shí)際上是一種原生分散暈現(xiàn)象，但是它比一般的原生暈可能
分布得更遠(yuǎn)些。因此，通過對這些斷層產(chǎn)物的礦物學(xué)研究和化學(xué)
分析，往往有助于找到潛伏的盲礦體。
古地理沉積環(huán)境控制因素的研究
對外生礦床來說，古地理沉積環(huán)境控制因素是很重要的，因
為它可以決定沉積空間和礦床的變化，以及礦床的工業(yè)利用
價(jià)值。總的來說，這個(gè)因素對成礦的影響又可分為以下幾個(gè)方
面，即沉積基底地形因素；水體深淺因素，即距離海岸或湖岸遠(yuǎn)。
近因素；沉積過程中環(huán)境千擾因素等。對礦石質(zhì)量來說，除了與
以上各因素有關(guān)外，成巖或變質(zhì)過程中外來因素也有影響。現(xiàn)舉
兩種沉積礦床為例說明沉積環(huán)境因素控礦特點(diǎn)及研究中應(yīng)注意解
決的問題。
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