本文標(biāo)題："電子微探儀分析(EPMA)/SEM電子顯微鏡"
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電子微探儀分析(EPMA)/SEM電子顯微鏡
試片的準(zhǔn)備方法與一般金相試片相同，但必須能導(dǎo)電。
使用電子微探儀進(jìn)行顯微組織結(jié)構(gòu)的觀察，針對(duì)各種不同的介金屬化合物所含元素做定量的成分分析與 X 光映像，定
量分析的試片不做浸蝕的處理，以減少分析上的誤差
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