本文標(biāo)題："金屬晶體結(jié)構(gòu)以及晶粒直徑測量用多功能相襯顯微鏡"
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金屬晶體結(jié)構(gòu)以及晶粒直徑測量用多功能相襯顯微鏡
晶體結(jié)構(gòu)錯位是指晶體結(jié)溝不規(guī)則。容易發(fā)生滑移。晶體結(jié)構(gòu)
錯位廣泛的金屬具有易滑移的特性，因而質(zhì)軟。銅、鋁和金由于晶
體結(jié)構(gòu)錯位廣泛，都很軟。它們的密堆積結(jié)構(gòu)與無電子鍵，使原子
比較容易彼此滑過。中斷錯位能提高硬度。例如，制合金引入外來
原子，形成的群體能產(chǎn)生晶體結(jié)構(gòu)錯位抗力。用這種合金方法難以
煉制出硬鋁。由于晶體絡(luò)構(gòu)錯位積聚于晶界，錯位晶粒的粒度下降
也會提高金屬的硬度。金屬獲得繼續(xù)滑移抗力的加工硬化處理(見
下述)，可通過制造新的晶體結(jié)構(gòu)錯位來進行。當(dāng)有足量的晶體結(jié)
構(gòu)錯位時，它們就會沿著交會滑移平面運動，從而阻礙彼此的活
動，防止繼續(xù)滑移.
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