本文標(biāo)題："多晶體金屬和合金的強(qiáng)度金屬熔點(diǎn)測量工具顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2014-12-23 1:2:57
多晶體金屬和合金的強(qiáng)度金屬熔點(diǎn)測量工具顯微鏡
多晶體金屬和合金的強(qiáng)度，尤其在高溫下的強(qiáng)度，往往由于
晶界斷裂而受到限制。這種斷裂可能有兩種類型:一種是相鄰晶
粒的相對滑動，另一種是由于晶界結(jié)合力的破壞而使兩個相鄰晶
粒分離。當(dāng)然，對于很硬的合金來說，在發(fā)生結(jié)合力破壞時只有
很小的塑性變形。這種行為稱做脆性斷裂，且一般都在低溫和高
負(fù)荷下發(fā)生。高溫時晶界結(jié)合力的破壞是在試樣經(jīng)受相當(dāng)大的變
形之后，并且相對來說是在較低的負(fù)荷下發(fā)生的。
晶界在變形時可能表現(xiàn)出兩種類型的弱點(diǎn):一種是晶拉在晶
界上發(fā)生相對的滑動，另一種是晶界結(jié)合.力的破壞而發(fā)生脆性斷
裂。由滑動所引起的應(yīng)力集中對于是否發(fā)生結(jié)合力的破壞是很有
影響的。可以認(rèn)為存在著某種最容易引起結(jié)合力玻壞的應(yīng)變速率
范圍，超過或低于這個應(yīng)變速率范圍時，晶界結(jié)合力的破壞就減
少。似乎，約在金屬熔點(diǎn)的一半溫度時，晶界經(jīng)受著某種有序一
無序的結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變，以致“高溫晶界”比低溫晶界為弱。
后一篇文章：鋼的各種類型的晶間樣品截面晶粒尺寸測量顯微鏡 »
前一篇文章：« TEM電子顯微鏡樣品測量面積是極小的-光學(xué)儀器常識
tags:技術(shù),材料學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
多晶體金屬和合金的強(qiáng)度金屬熔點(diǎn)測量工具顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/2117.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/