本文標(biāo)題："微量定量分析光學(xué)圖像顯微鏡,表面磨損觀測(cè)"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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微量定量分析光學(xué)圖像顯微鏡,表面磨損觀測(cè)
元素分析可按下面兩種方式進(jìn)行
(a)記錄一點(diǎn)所發(fā)射的全x射線譜(點(diǎn)元素分析)。待檢測(cè)
點(diǎn)用一光學(xué)顯微鏡來(lái)選擇，而該顯微鏡能觀察真空室中的試樣并
確定其位置。
(b)把x射線分光計(jì)調(diào)整到某元素的特性線；然后對(duì)表面
進(jìn)行掃描，所得到的結(jié)果以陰極射線管上的象的形式出現(xiàn)，管中
各點(diǎn)的強(qiáng)度(或點(diǎn)數(shù))與元索的濃度大致成正比。微量分析器通
常備有二三個(gè)分光計(jì)，以便同時(shí)分析幾種元素。
傳統(tǒng)x射線定量分析，中出現(xiàn)的問(wèn)題也是微量分析
中所固有的。這里，也需要用標(biāo)準(zhǔn)，自吸收校正曲線等來(lái)獲得定量
結(jié)果而使誤差達(dá)到最小。但是，微量分析為研究顯微組織提供了
可能性，從而保證能在其發(fā)展過(guò)程中繼續(xù)進(jìn)行研究，掃描顯微鏡
是專(zhuān)門(mén)化儀器，而微量分析器較為通用，且可用作掃描顯微鏡．
應(yīng)用 掃描電子顯微鏡正愈來(lái)愈多地用于研究匾體表面磨損
過(guò)程。這種儀器的主要特性是，襯比度高(由于“斜"’照明所致)、
視場(chǎng)深度大和放大率大。除了粗糙的車(chē)制
區(qū)外，還可看到非常平的磨合區(qū)。此表面的形成方式是可疑的．
在任何情況下，除了可能發(fā)生由于粒子分離而引起的傳統(tǒng)磨損
外，似乎還會(huì)在粗糙部分發(fā)生塑性變形，從而引起流動(dòng)和表面材
料展平．這個(gè)過(guò)程的形成方式可在平區(qū)的邊緣上特別是在較高的
放大率下進(jìn)行檢驗(yàn)．
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