本文標(biāo)題："碎屑形式取樣,碎屑制備成光譜分析試樣測(cè)量顯微鏡"
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碎屑形式取樣,碎屑制備成光譜分析試樣測(cè)量顯微鏡
碎屑的取樣
分析用碎屑、粉末狀金屬和少量樣品的制備
如果不可能由被試驗(yàn)的產(chǎn)品成型為一電極，但允許在某些點(diǎn)能
鉆孔、磨碎等方法破壞它，然后把碎屑制備成光譜分析試樣，碎
屑既可直接地蒸發(fā)，也可通過壓制或重熔造型成試樣，甚至可通
過酸或堿制備成溶液進(jìn)行分析。
如以碎屑形式取樣時(shí)，必須小心遵守如下預(yù)防措施：
1、只有小心清洗過的，無銹、無鱗狀我的表面才可以著手取
樣。
2、鉆孔、車床加工、刨屑或研磨工具必須有相應(yīng)于樣品性質(zhì)
的硬度和形狀，為了避免樣品污染切削工具必須小心清洗，如果
需要，必須采用硬的工具，而樣品必須退火。
3、碎屑必須進(jìn)行干燥，但要防止樣品以過熱的速度進(jìn)行，即
絕對(duì)避免形成電鍍色。
4、碎屑的厚度僅以不妨礙它們進(jìn)一步處理為宜：粉碎、稱重
、制坯或者分解。
5、為了減少樣品可能不均勻，合理的是沿樣品的中心面分布
的各點(diǎn)，取樣的深度至少為試樣總厚度的2/3，為了研究在各個(gè)
平面中試樣組成分布的不均勻性，樣品可按層次取出，即通過刨
削或銑削。
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